射频测试P1RF

     P1提供业界领先的测量速度,出色的RF 测量性能和更低的测试成本。用户可通过升级板卡支持更复杂测试。
·PXI 模块化仪器
     包含 RF 信号发生器、RF 信号分析仪、高速数字 I/O、源测量单元(SMU)、RF开关、任意波形发生器(AWG)等

· 嵌入式 PC
       PXI 控制器是 PXI 系统的核心组件,包含了高性能i5/i7多核处理器、大容量内存等选项
      

· 测试软件
          图形化测试界面,易于和工厂MES IT工具集成
      

· P1应用领域
        利用P1测试机和Flexsys RF软件,用户可对不同类型射频芯片灵活配置仪器,得到最优成本条件下的测试结果。测试项目包括: S参数,隔离度,插入损耗,电压增益,饱和功率,噪声系数,线性度,ACLR,EVM,IP3,IMD等。