RF 芯片测试
 

特点
      ·使用PXIE架构VNA易于升级维护
      ·编程简单快速(.NET编程语言,易于使用)
      ·测试速度快(1个频点抓取301点测试S参数28ms)
      ·价格低(小机箱配置)
      

Flexsys软件界面
      
      

       使用FlexSYS软件,用户不仅可得到测试结果,必要时也可通过内置的程序模板进行测试程序的定制化开发。

       P1在完全封闭的环境集成了PXI平台、FlexsysRF测试管理软件。它包括系统控制器;直流、交流和射频仪器;待测设备通过射频线缆连接分选机。 这样的紧凑型设计减少了占地空间,降低了功耗,减轻了传统ATE测试员的维护负担,从而节约了测试成本。 此外,半导体测试系统采用开放的模块化设计,使您可以利用最新的工业标准PXI模块,获得更多的仪器资源和更强大的计算能力。测试项目包括但不局限于以下内容:

测试项目

·  RF功率放大器
·   RF滤波器
·   RF 低噪放大器
·   RF开关
·   RF前端模块(FEM)

·  EVM
·   IMD/TOI
·   ACPR
·   毛刺和谐波
·   S参数
·   本底噪声

测试芯片

       最小配置的FlexSYS系统即可进行测试射频开关的测试。测试频率最高可达3Ghz,内部集成的板卡式网络分析仪带宽最高可选配到26.5GHz。系统包括:机箱套件,VNA网分卡,IO32数字通道卡,USB-TTL / GPIB通讯卡,以及FlexSYS软件。

P1对射频开关的测试

数据报告格式
       · STDF
       ·SUM
       · CSV

      

RF switch测试系统架构