系统测试方案

      在现代电子应用系统中 ,印刷电路板越来越复杂多层板的设计越来越普遍,大量使用各种表贴元件和BGA (ball grid array) 封装元件,元器件的管脚数和管脚密度不断提高,使用万用表、示波器测试芯片的传统“探针”方法已不能满足要求。在这种背景下,联合测试行动组(Joint Test Action Group,简称 JTAG) 起草了边界扫描测试( Boundary Scan Testing,简写BST) 规范,后来在1990 年被批准为 IEEE 标准1149. 121990 规定,简称JTAG标准。JTAG主要应用于电路的边界扫描测试和可编程芯片的在线系统编程。边界扫描测试有两大优业 :一个是方便芯片的故障定位,迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠,提高测试检验效率;另一个是,具有 JTAG接口的芯片,内置一些预先定义好的功能模式,通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式,以提高系统控制的灵活性和方便系统设计。
      而基于边界扫描和功能测试的电路板测试系统,在完成制程检测的同时,可以实现电路板功能的验证,从而实现最大限度的提高待测电路板的测试覆盖率。

IO控制

包含DIO控制,电源控制板,Relay切换板,数字采集卡
用于测试系统内电源,仪器仪表,接口电路板信号的切换和控制,以实现自动控制

 

功能测试


功能测试
逻辑验证
模拟性能测试,如频率,电压电流
电路特性分析
电源时序

数据下载

通过USB,以太网等高速接口,对需要大数据量下载的器件(如Nor Flash,Nand Flash,EMMC等)提供在线高速编程解决方案;
在线编程可选用仿真器(不同芯片需要选用不同的软硬件);
在线编程可选用边界扫描控制器(软硬件可通用);
根据实际需求选择不同的硬件和软件;

用户图形界面

边界扫描测试方案

利用这种技术, 不仅能测试集成电路芯片输入/输出管脚的状态, 而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障。对芯片管脚的测试可以提供100% 的故障覆盖率, 且能实现高精度的
故障定位。

DMM测试、Power Sequence测试

在电路板上电之前,使用DMM测量电源对地阻抗,以确认电路板上没有短路,防止上电的时候烧坏电路板,测试仪器,或者电源。
最大24路电压测量模块,同时测量上电 Sequence,确保上电正常。
调试好的配置文件(校正数据、测试波形、顺序切换端口,仪器仪表通讯等)可以保存并通过生产操作界面方便调用;
对测试硬件的自动化控制,测试结束后,自动上传Data Log,支持TXT,CSV等格式