系统测试方案

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系统测试方案

在现代电子应用系统中 ，印刷电路板越来越复杂多层板的设计越来越普遍，大量使用各种表贴元件和BGA (ball grid array) 封装元件，元器件的管脚数和管脚密度不断提高，使用万用表、示波器测试芯片的传统“探针”方法已不能满足要求。在这种背景下，联合测试行动组(Joint Test Action Group，简称 JTAG) 起草了边界扫描测试( Boundary Scan Testing，简写BST) 规范，后来在1990 年被批准为 IEEE 标准1149. 121990 规定，简称JTAG标准。JTAG主要应用于电路的边界扫描测试和可编程芯片的在线系统编程。边界扫描测试有两大优业 :一个是方便芯片的故障定位，迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠，提高测试检验效率；另一个是，具有 JTAG接口的芯片，内置一些预先定义好的功能模式，通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式，以提高系统控制的灵活性和方便系统设计。
而基于边界扫描和功能测试的电路板测试系统，在完成制程检测的同时，可以实现电路板功能的验证，从而实现最大限度的提高待测电路板的测试覆盖率。

在电路板上电之前，使用DMM测量电源对地阻抗，以确认电路板上没有短路，防止上电的时候烧坏电路板，测试仪器，或者电源。

最大24路电压测量模块，同时测量上电 Sequence，确保上电正常。

利用这种技术, 不仅能测试集成电路芯片输入/输出管脚的状态, 而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障。对芯片管脚的测试可以提供100% 的故障覆盖率, 且能实现高精度的

故障定位。

通过USB，以太网等高速接口，对需要大数据量下载的器件（如Nor Flash，Nand Flash，EMMC等）提供在线高速编程解决方案；

在线编程可选用仿真器（不同芯片需要选用不同的软硬件）；

在线编程可选用边界扫描控制器（软硬件可通用）；

根据实际需求选择不同的硬件和软件；

包含DIO控制，电源控制板，Relay切换板，数字采集卡

用于测试系统内电源，仪器仪表，接口电路板信号的切换和控制，以实现自动控制

功能测试

逻辑验证

模拟性能测试，如频率，电压电流

电路特性分析

电源时序

调试好的配置文件（校正数据、测试波形、顺序切换端口，仪器仪表通讯等）可以保存并通过生产操作界面方便调用；

对测试硬件的自动化控制，测试结束后，自动上传Data Log，支持TXT,CSV等格式