高性能数字I/O通道卡

IO32数字仪表

射频测试P1RF

红外焦平面测试仪

半导体测试系统P1

基于PXI开放式架构的实验室测试设备

实时显示红外热像图

采用PXI架构的集成化半导体芯片测试台

集成了32通道高达200Mbps性能的数字IO能力

高达256数字I/O并支持多site,是IC自动化测试的理想设备

提供出色的RF测量性能和更低的测试成本,适合实验室测试

产品介绍